Ⅰ:
기계식과 달리저울, 전자 저울은 실험적 계량을 위해 전자기력 천칭의 원리를 사용하고 로드 셀이 내장되어 있어 성능이 전자 저울의 정확성과 안정성에 직접적인 영향을 미칩니다. 그러나 다양한 외부 환경과 전자기 간섭은 정확도와 안정성에 영향을 미치므로 전자저울을 사용할 때 올바른 사용 방법에 주의해야 합니다. 이렇게 하면 계량 정확도가 향상되고 수명이 연장되기 때문입니다. 그렇다면 사용 중 전자저울에 이상이 생기면 어떻게 해야 할까요? 다음은 몇 가지 일반적인 전자 저울 결함 검사 방법입니다. 관심 있는 친구들이 그들에 대해 배우고 싶어할 수도 있습니다.
Ⅱ:
기계식 저울과 달리 전자 저울은 실험적 계량을 위해 전자기력 균형 원리를 사용하며 로드 셀이 내장되어 있어 성능이 전자 저울의 정확성과 안정성에 직접적인 영향을 미칩니다. 그러나 다양한 외부 환경과 전자기 간섭은 정확도와 안정성에 영향을 미치므로 전자 저울을 사용할 때 올바른 사용 방법에 주의해야 합니다. 이렇게 하면 계량 정확도가 향상되고 서비스 수명이 연장되기 때문입니다. 그렇다면 사용 중 전자저울에 이상이 생기면 어떻게 해야 할까요? 다음은 몇 가지 일반적인 전자 저울 결함 검사 방법입니다. 관심 있는 친구들이 그들에 대해 배우고 싶어할 수도 있습니다.
Ⅲ:
그만큼점검 방법 전자 저울'c일반적인 잘못:
1. 직관적M방법
전자저울의 주 회로 기판에는 많은 부품이 있으며 단락, 개방 회로, 플러그와 소켓의 접촉 불량, 부품 튜브 모서리의 용접 개방으로 인해 많은 결함이 발생합니다. 따라서 가격 책정 규모가 실패하면 먼저 시각, 청각, 후각, 촉각 및 기타 방법과 같은 직관적인 감각으로 회로 기판을 확인해야 합니다.
2. 비교 및 대체방법
결함 검사 중에 전자 저울은 기기의 도움으로 결함이 있는 저울과 비교할 수 있으며 결함 지점을 신속하게 찾을 수 있습니다. 또한 작업 시 준비한 센서, 회로기판, 전원공급장치, 키보드 등 기타 구성품에 손상이 의심되는 경우 준비된 구성품으로 교체한 후 결과가 달라지는지 관찰한다. 정상이라면 원래 구성 요소에 문제가 있다는 의미입니다. 비교 및 대체 방법을 사용하면 오류 지점을 빠르고 정확하게 확인할 수 있습니다.
3. 전압M보장M방법
전자 저울은 회로 부품의 작동 전압과 칩의 각 튜브 각도 측정값을 정상 값과 비교합니다. 전압이 크게 변화하는 곳이 고장의 장소입니다.
4. 짧게C회로와O펜C회로M방법
단락 방식은 회로의 특정 부분을 단락시킨 후 전자 저울이 오실로스코프나 멀티미터 테스트 결과를 통해 결함 지점을 판단하는 것입니다. 개방 회로 방법은 회로의 특정 부분을 분리한 다음 멀티미터를 사용하여 저항, 전압 또는 전류를 측정하여 오류 지점을 결정하는 것입니다.
게시 시간: 2022년 6월 15일